分體式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱公司

作者：CEO 時(shí)間：2023-02-21 點(diǎn)擊：0

信息摘要：分體式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱公司產(chǎn)品主要用于電子、電器、食品、汽車、橡塑膠、金屬及其它產(chǎn)品、零部件及材在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖、L

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　　產(chǎn)品主要用于電子、電器、食品、汽車、橡塑膠、金屬及其它產(chǎn)品、零部件及材在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)、橡膠、塑膠等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

　　分體式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱公司試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

　　1：GB/-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

　　2：GB/T-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

　　3：GB/T5170.2-2008《溫度試驗(yàn)設(shè)備》；

　　4：GB/T5170.5-2008《溫?zé)嵩囼?yàn)設(shè)備》；

　　5：GB/T2423.1-2008（IEC-2-1：2007）《試驗(yàn)Ab：低溫試驗(yàn)方法》；

　　6：GB/T2423.2-2008（IEC-2-2：2007）《試驗(yàn)Bb：高溫試驗(yàn)方法》；

　　7：GB/T2423.3-2008（IEC-2-2：2007）《試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)》；

　　8：GB/T2423.4-2008（IEC-2-2：2007）《試驗(yàn)Bb：交變濕熱試驗(yàn)》；

　　9：GJB150.3A-2009（MIL-STD-810F-2000）《高溫試驗(yàn)》；

　　10：GJB150.4A-2009（MIL-STD-810F-2000）《低溫試驗(yàn)》；

　　11：GJB150.9A-2009（MIL-STD-810F-2000）《濕熱試驗(yàn)》。